高低温冷热冲击试验箱

用途：高低温冷热冲击试验箱广泛用于电子电器零元件、自动化零部件、通讯元件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的质量,从精密的IC到重机械的元件，可作为其产品改进的依据或参考。

产品品牌： XIAGNFEGN/祥奉

价格：我要询价

厂商性质：生产厂家

产品时间： 2025-06-16

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产品概述

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一、高低温冷热冲击试验箱产品概况

本系列程序主要用于测试材料对*温或极低温的抵抗力，这种情况类似于不连续地处于高温或低温中的情形，冷热冲击试验能使各种物品在短的时间内完成测试。热震中产生的变化或物理伤害是热胀冷缩改变或其他物理性值的改变而引起的，采用PID系统，各类产品才能获得*之信赖。热震的效果包括成品裂开或破层及位移等所引起的电化学变化，PID系统的全数位元自动控制，将使您操作简易。
冷热冲击试验机是金属、塑料、橡胶、电子等材料行业的测试设备，用于测试材料结构或复合材料，在瞬间下经*温及极低温的连续环境下所能忍受的程度，得以在短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。分为两厢式和三厢式，区别在于试验方式和内部结构不同，产品符合标准为：GB/T2423.1-2008试验A 、GB/T2423.2-2008试验B、GB-T10592-2008、GJB150.3-198、GJB360A-96方法107温度冲击试验的要求。
满足的试验方法：GJB150.5-86 温度冲击试验，符合MIL，IEC，JIS规范。

二、用途：
广泛用于电子电器零元件、自动化零部件、通讯元件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的质量,从精密的IC到重机械的元件，可作为其产品改进的依据或参考。

三、冷热冲击箱满足标准：
1、GB-2423.1-89（IEC68-2-1）试验A：低温试验方法。
2、B-2423.2-89（IEC68-2-2）试验B：高温试验方法。
3、GJB360.8-87（MIL-STD-202F）高温寿命试验。
4、GBJ150.3(MIL-STD-810D)高温试验方法。
5、GJB150.4(MIL-STD-810D)低温试验方法。
6、GJB150.3-86。
7、GJB150.4-86。

设备技术协定:

设备名称		高低温冷热冲击试验箱
型号		XF/GDWCJ-80L
容积L		80L
温湿度控制仪表		TH58226S，触摸屏输入，中英文切换。根据客户要求可任意设定不同温度点
箱体结构		此设备分为：高温蓄热区，低温蓄冷区，产品测试区
测试区尺寸		500mm×400mm×400mm宽高深
外型尺寸		1900mm×2100mm×2000mm宽高深
结构及重要参数	测试箱温度冲击范围	-65℃～+150℃（可编程任意设定）
	蓄热箱温度范围	+50℃～+180℃（可编程任意设定）
	蓄冷箱温度范围	0℃ ～ -65℃（可编程任意设定）
	控制器控制精度	±0.2℃
	温度冲击速率	5min内完成
	外壳材料	不锈钢板
	内箱材料	SUS＃304加厚耐热耐寒不锈钢板，一级光面板
	保温材料	高密度玻璃棉及高强度PU发泡绝缘材料
	箱体均匀度	±1℃
	送风循环系统	采日制多翼离心式循环风扇，日制马达整组
	加热器	U型鳍片式304#无缝钢高速加温电热器。
	制冷压缩机	采用法国泰康加大匹全封密压缩机
	制冷配件	台弯中力蒸发器、马尔风机等
	制冷方式	采用风冷散热
	样品架	样品层置物架
	电气配件	电气元件
	引线孔	机器左侧Φ50mm
配线方式		本公司电控配线方式按照国际电工标准执行
?；ぷ爸?/span>		压缩机过热，超温，超载，高压，低压，油压，过流，欠相，停电待机等报警警示.
电源		AC380V 50~60Hz 10~15KW
符合标准		GB2423[1].02高温试验方法，GB2423[1].01低温试验方法.

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