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            XF/WDCJ-100L两厢高低温冲击试验箱

            XF/WDCJ-100L两厢高低温冲击试验箱广泛使用于航空航天、电工电子、仪器仪表、材料设备、零部配件等模拟试件在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验及对电子元器件的安全性测试提供可靠性试验、产品筛选等,同时可通过此试验,进行产品的质量控制。
            产品品牌: XIAGNFEGN/祥奉
            价格: 我要询价
            厂商性质: 生产厂家
            产品时间: 2025-06-16

            产品概述

            一、产品介绍

            XF/WDCJ-100L两厢高低温冲击试验箱广泛使用于航空航天、电工电子、仪器仪表、材料设备、零部配件等模拟试件在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验及对电子元器件的安全性测试提供可靠性试验、产品筛选等,同时可通过此试验,进行产品的质量控制。


            二、XF/WDCJ-100L两厢高低温冲击试验箱技术参数

            型号

            XF/WDCJ-100L

            XF/WDCJ-225L

            XF/WDCJ-500L

            XF/WDCJ-010L

            工作室尺寸D×W×H

            450×450×500

            600×600×600

            800×800×800

            1000×1000×1000

            外型尺寸D×W×H

            1560×870×1545

            1710×1020×1845

            1910×1220×2265

            2110×1420×2665

            样品区尺寸D×W×H

            250×250×250

            400×400×450

            600×600×600

            800×800×750

            功率(KW)A/B/C

            13/15/17

            15/17/18

            18/21/21

            20/24/27

            性能
            指标

            温度范围

            A:-20℃~200℃ B:-40℃~200℃C:-60℃~200℃

            温度波动

            高温室及低温室均±2℃

            样品区温度波动

            ±0.5℃(恒温时)

            样品区承重

            30kg

            30kg

            50kg

            60kg

            温湿度运行控制系统

            控制器

            进口LED数显(P·I·D +S·S·R)微电脑集成控制器

            精度范围

            设定精度:温度0.1℃,指示精度:温度0.1℃,解析度:0.1℃

            制冷系统

            进口德国谷轮半封闭水冷式压缩机组/原装法国“泰康"/全封闭风冷复迭压缩制冷方式

            循环系统

            耐温低噪音空调型电机.多叶式离心风轮

            温度转换时间

            从低温区到高温区或从高温区到低温区≤15S

            温度恢复时间

            ≤5min(与温度恢复条件有关,既冷却水温、暴露温差、恒温时间、样品重量有关)

            温度冲击方法

            垂直两箱法(两箱式冷热冲击试验箱


            三、两厢高低温冲击试验箱执行满足标准及试验方法

            GB11158-2008高温试验箱技术条件

            GB10589-2008低温试验箱技术条件

            GB10592-2008高低温试验箱技术条件(温度交变)

            GB/T2423.1-2008电工电子产品环境试验第2部分:试验方法 试验A:低温(IEC60068-2-1:2007)

            GB/T2423.2-2008电工电子产品环境试验第2部分:试验方法 试验B:高温(IEC60068-2-1:2007)

            GB/T2423.22-2002电工电子产品环境试验第2部分:试验方法 试验N:温度变化(IEC60068-2-14)

            GJB150.3A-2009装备实验室环境试验方法第3部分:高温试验GJB150.4A-2009装备实验室环境试验方法第3部分:低温试验GJB150.5-1986温度冲击试验

             


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